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鍍層測試儀ts-80-東莞市南城麻豆视频APP下载网站檢測儀器經營部




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鍍層測試儀

熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量係統解析度0.001µm小測量麵積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

  • 產品型號:ts-80
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-10-25
  • 訪  問  量:11470
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詳細介紹

鍍層測試儀特點:

中文視窗操作測量係統
解析度0.001um, 小測量麵積0.1mmΦ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象:1C導線架,封裝業、PCB業、精密零
件業、電鍍業、電子業。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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